格上点式一致结构的刻划与点式度量化定理

史福贵;郑崇友

数学学报 ›› 2002, Vol. 45 ›› Issue (6) : 1127-113.

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数学学报 ›› 2002, Vol. 45 ›› Issue (6) : 1127-113. DOI: 10.12386/A2002sxxb0146
论文

格上点式一致结构的刻划与点式度量化定理

    史福贵;郑崇友
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Characterizations of Pointwise Uniformities and Pointwise Metrization Theorems on Lattices

    Fu Gui SHI(1),Chong You ZHENG(
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